超聲掃描顯微鏡CTS-SAM性能及應用 制造業的精密化、集成化與高可靠性發展趨勢，對關鍵材料內部細微結構及缺陷的無損檢測提出了的高要求。工業超聲掃描顯微鏡憑借其非破壞性、深層穿透和優異的內部成像能力，已成為微觀質量評估、缺陷檢測的核心技術手段。“啟航檢測科技超聲推出的CTS-SAM超聲掃描顯微鏡在半導體制造、精密器件加工等領域，能夠對極小缺陷進行快速、精準、大批量檢測的嚴苛需求。 
超聲掃描顯微鏡CTS-SAM產品介紹 制造業的精密化、集成化與高可靠性發展趨勢，對關鍵材料內部細微結構及缺陷的無損檢測提出了的高要求。工業超聲掃描顯微鏡憑借其非破壞性、深層穿透和優異的內部成像能力，已成為微觀質量評估、缺陷檢測的核心技術手段。“啟航檢測科技推出的CTS-SAM超聲掃描顯微鏡在半導體制造、精密器件加工等領域，能夠對極小缺陷進行快速、精準、大批量檢測的嚴苛需求。 超聲掃描顯微鏡CTS-SAM功能特點 系統組成：機架、高精度直線電機掃描平臺、多自由度探頭夾具、水槽、水過濾循環系統、高頻脈沖發生接收儀、遠端脈沖發生器、高頻采集卡、電控系統、軟件系統等。 激勵采用自主研發的高頻脈沖發生接收儀CTS-8072PR-500M，突破的壟斷，實現國產化自主可控。 具有豐富的掃查規劃功能，能夠滿足多工件規劃、多掃查面規劃、自動路徑規劃、示教路徑規劃、外部路徑規劃等。 運動控制功能包括：單軸點動模式、單軸模式、單軸相對模式、TCP控制模式、運動系統校準等。 掃查功能涵蓋：幅度C掃、深度C掃、多層C掃、穿透C掃，并具有界面波跟蹤功能，實現界面波補償聲程。 具有C視圖導航功能，可通過點擊C掃圖的具體像素點，將探頭移至與實際被檢工件相對應的位置。 視圖顯示包括A掃、B掃、C掃、D掃、3D視圖、FFT頻譜分析等，全程記錄A掃波形數據和保存全部視圖。 具有全面功能*的數據分析功能，包括： ?X、Y、Z厚度與距離測量功能：根據手工圈選的輪廓（圓形，矩形，多邊形）計算缺陷百分比； ?根據CAD導入的輪廓模板，計算百分比； ?自動圈選缺陷功能； ?記錄缺陷列表，定位缺陷位置； ?焊合率計算； ?局部閘門和閾值功能，實現可對C掃圖進行加框，修改局部閘門和閾值； ?提供多種調色板可選及自定義調色板導入，切換標尺單位，定義色標范圍，多種圖層的顯示和關閉等功能。 啟航檢測科技（上海）有限公司-無損事業部-啟航科技根據客戶需求應用和需求定制， | 
